Kleinste Fehler elektronischer Bauteile erkennen und analysieren
über
- Hotspots und atypische Temperaturverteilungen auf der Oberfläche von Leiterplatten, integrierten Schaltkreisen und Multichip-Modulen
- Erhöhte Übergangswiderstände
- Widerstandserhöhung durch Einschnürung von Leitungen
- Verdeckte Risse in Verbindungsstellen
- Verlustleistungen durch HF-Fehlanpassung
- Fehlerhafte thermische Anbindungen von Kühlkörpern
- Kurzschlüsse, Lötdefekte wie z. B. kalte Lötstellen
InfraTec bietet High-End-Thermografielösungen zur thermischen Analyse von Strukturen mit einer Pixelgröße bis zu 1 µm. Dazu zählt beispielsweise die Wärmebildkamera ImageIR® 10300 mit ihrem enormen nativen Detektorformat von (1.920 × 1.536) IR-Pixeln. Die komplette Kameraserie ImageIR® sowie die Produktreihe VarioCAM® HD head verfügen über technische Eigenschaften, die beste Voraussetzungen für das detaillierte Darstellen der Temperaturverteilung an elektronischen Bauteilen und Baugruppen schaffen:
- Breites Sortiment handgehaltener und stationärer Wärmebildkameras für den Einsatz im Labor und in der Produktion
- Gekühlte und ungekühlte Detektoren der neuesten Generation mit geometrischer Auflösung bis zu (1.920 × 1.536) IR-Pixeln
- Thermische Auflösung bis zu 0,015 K
- Extrem kurze Integrationszeiten für Bildfrequenzen bis zu 105.000 Hz
- Lichtstarke IR-Mikroskope ermöglichen Pixelgrößen kleiner als 1 µm und somit die Analyse kleinster Strukturen
- Komplexe Prüfsysteme zur Nutzung der Aktiv-Thermografie
Professionelle Spezialsoftware zur Erkennung kleinster Temperaturunterschiede
Temperaturunterschiede zwischen defekten und intakten Strukturen betragen oftmals nur wenige Milli- und Mikrokelvin. Mithilfe der Thermografie-Software IRBIS® 3 active lassen sich solch geringe Differenzen deutlich erkennen. Sie unterstützt die Lock-In-Thermografie mit aktiver elektrischer Anregung entsprechender Prüfobjekte zur Fehlererkennung und bietet entscheidende Vorteile für die komplette Fertigungskette:- Analyse mit verschiedenen Verfahren der Aktiv-Thermografie
- Überlagerung verschiedener Ansichten auf Pixelebene, um Anomalien erfolgreich und präzise zu lokalisieren
- Hochfrequenzanregung während der Messung zur Gewinnung detaillierterer Informationen
- Einfaches Speichern, übersichtliche Organisation und schnelles Abrufen verschiedener Parametereinstellungen

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