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Testen mit JTAG-Interface

Verbindungen ohne Prüfspitzen durchmessen

Testen mit JTAG-Interface
Die manuelle Prüfung von Platinen ist bei Multilayern und komplexen ICs schwierig bis unmöglich. Glücklicherweise ist heutzutage in vielen ICs schon eine besondere Logik integriert, mit der man Verbindungen auf der Platine ausgiebig testen kann. Dabei wird die durch das IEEE standardisierte JTAG-Schnittstelle eingesetzt.
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