Patent für die Entdeckung gefälschter Chips

16. Oktober 2017, 20:25 Uhr
Patent für die Entdeckung gefälschter Chips
Patent für die Entdeckung gefälschter Chips
Das Battelle Memorial Institute, ein privates amerikanisches Forschungs- und Technologieunternehmen, hat ein US-Patent für ein Verfahren zur Unterscheidung von gefälschten und echten elektronischen Bauteilen erhalten. Das Patent deckt die Verwendung intrinsischer deterministisch-zufälliger Eigenschaften eines Chips zusammen mit einem Klassifikationsalgorithmus ab, die eine eindeutige ID ergeben, die mit der Hilfe einer Datenbank geprüft werden kann.

Gemäß US-Patent Nr. 9,759,757 können intrinsisch deterministisch-zufällige Eigenschaftsdaten aus einem Satz authentischer elektronischer Bauteile generiert werden, um eine Klassifikation zu schaffen, die unterscheiden kann, ob ein unbekanntes elektronisches Bauteil authentisch oder gefälscht ist. Solche Eigenschaften können sich auf die Veränderung des Stromverbrauchs über die Zeit oder auf elektrische oder magnetische Felder an bestimmten Stellen beziehen. Die Klassifizierung kann zerstörungsfrei, schnell und mit geringen Kosten durchgeführt werden.

Die oben beschriebene Authentifizierungstechnologie wird bereits im kommerziell verfügbarem Barricade-System von Battelle eingesetzt.
 
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