Geringere Kosten und kleinere Stücklisten mit den Leistungsüberwachungs-ICs PAC1932/33 von Microchip

14. August 2018, 08:49 Uhr
Bild: Microchip
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Microchip stellt neue 2- und 3-Kanal-Leistungsüberwachungs-ICs vor, die im Bereich von 0 bis 32 V als Single-Chip-Lösung arbeiten. Entwickler können damit Lösungen einfach umsetzen und die Genauigkeit der Leistungsmessung erhöhen. Der 2-Kanal-Baustein ist auch der branchenweit erste IC mit nativer 16-Bit-Auflösung und hoher Flexibilität über einen weiten Messbereich.
 
Die Bausteine PAC1932/33 bieten alle Funktionen, die zur Leistungsmessung über einen einzigen IC erforderlich sind. Sie vereinen mehrere Kanäle in einem Gehäuse und eignen sich für Anwendungen wie POS-Systeme, Geldautomaten und Gebäudeautomation. Dies reduziert die Kosten und verkleinert die Stückliste, da die Messung von Spannungsschienen von <1 bis 20 V normalerweise gesonderte Bauelemente erfordert, um jede Schiene effizient messen zu können. Die Fähigkeit der ICs, Spannungsschienen von <1 bis zu 32 V zu messen, entbindet Entwickler außerdem davon, die Messauflösung zwischen Messungen mit niedriger und hoher Strombelastung neu konfigurieren zu müssen.
 
Als branchenweit erster 2-Kanal-Baustein mit 16-Bit-Leistungsmessung kann der PAC1932 bis zu 17 Minuten lang ohne Eingreifen des Host-Rechners Messungen durchführen und Entwickler davon entlasten, den Spannungs- oder Strombereich anzupassen, um Leistung und Energie zu messen. Die Bausteine enthalten zwei 16-Bit-A/D-Wandler (ADCs), die Spannung und Strom gleichzeitig messen können, sodass sich eine echte Leistungsmessung durchführen lässt. Dadurch lassen sich effizientere Systeme entwickeln, um Strom zu sparen.
 
Da in Anwendungen weiterhin nach Möglichkeiten gesucht wird, den Stromverbrauch zu senken, ist die präzise Messung von Gleichstrom ein wichtiger Faktor bei der Energieeinsparung geworden. Genau wie der 4-Kanal PAC1934 die Leistungsmessung in Windows-10-Geräten verbessert, bieten die neuen 2- und 3-Kanal-Energieüberwachungs-ICs eine verbesserte Leistungsmessung für Anwendungen mit niedriger Spannung und hoher Leistung in Märkten wie Embedded Computing und Netzwerktechnik.
 
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