Applikationsbericht: 7 Fallstricke bei Prüfspitzen von Oszilloskopen vermeiden

23. März 2018, 00:00 Uhr
Applikationsbericht: 7 Fallstricke bei Prüfspitzen von Oszilloskopen vermeiden
Applikationsbericht: 7 Fallstricke bei Prüfspitzen von Oszilloskopen vermeiden
Das Verständnis häufiger Fallstricke und deren Vermeidung ist entscheidend für bessere Messungen. In einer idealen Welt bestünden alle Sonden aus einer mit Ihrer Schaltung verbundenen nichtinvasiven Leitung mit unendlichem Eingangswiderstand sowie einer Kapazität und Induktivität von Null. Die Sonde würde eine exakte Kopie des gemessenen Signals liefern. In Wirklichkeit aber operiert man mit echten Prüfspitzen in realen Schaltungen. Die resistiven, kapazitiven und induktiven Anteile einer solchen Prüfspitze können die abgegriffenen Signale der zu testenden Schaltung beeinflussen.
Mehr über den optimalen Einsatz von Prüfspitzen in einem Applikationsbericht von Keysight Technologies.

Zum Download des Applikationsberichts „7 Common Oscilloscope Probing Pitfalls to Avoid“ muss man sich registrieren, falls man das nicht schon erledigt hat.
 
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