• Grundlagen
  • Veröffentlicht in Heft 2/2000 auf Seite 0
Über den Artikel

Byte-Generator

Tester für DACs und Digital-Steuerungen

Die Schaltung wurde entworfen, um zu Testzwecken den Prototyp eines Digital-Analog-Wandlers manuell mit digitalen Kodes zu versorgen. Danach wurde der Byte-Generator modifiziert, um einen opto-isolierten Low-side-Schalter zu überprüfen, der einen Transistor-Treiber mit offenem Kollektor benötigt. Und schließlich wurde aus der Behelfsschaltung ein echtes Testgerät.
Entwurf von Adrian Grace
Der Ausgangspunkt der Schaltung in Bild 1 ist der 8-fache DIP-Schalter SW1, der in einer DIL-Fassung steckt. Sind die Schalter geschlossen, verbinden sie die Eingänge von IC1 mit Masse, ansonsten sorgen die Pull-up-Widerstände (4,7 k), die gemeinsam im SIL-Array R1 stecken, diese Eingänge mit +5 V. Jede der Leitungen ist auch mit K1 verbunden, einem 1x10-poligen oder 2x10-poligen Pfostenverbinder.
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Byte-Generator
Widerstände:
R1 =8x4k7 SIL-Widerstandsarray
R2 = 8x470 SIL-Widerstandsarray
Halbleiter:
D1...D8 = LED, high efficiency
IC1 = 74LS245 oder 74HCT245
IC2 = ULN2801A
Außerdem:
K1 = 2x10-poliger Pfostenverbinder
K2 = 1x10-poliger Pfostenverbinder
K3 = 1x11-poliger Pfostenverbinder
K4 = 1x3-poliger Pfostenverbinder
Erweiterung
Widerstand:
R1 = 4k7
Kondensator:
C1 = 100 n
Halbleiter:
D9 = 1N4148
IC1 = 74HCT4040
Außerdem:
K5 = 2x10-poliger Pfostenverbinder
20poliges Flachbandkabel mit Aufpressverbindern (K5-K1)
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