Byte-Generator

Die Schaltung wurde entworfen, um zu Testzwecken den Prototyp eines Digital-Analog-Wandlers manuell mit digitalen Kodes zu versorgen. Danach wurde der Byte-Generator modifiziert, um einen opto-isolierten Low-side-Schalter zu überprüfen, der einen Transistor-Treiber mit offenem Kollektor benötigt. Und schließlich wurde aus der Behelfsschaltung ein echtes Testgerät.Entwurf von Adrian GraceDer Ausgangspunkt der Schaltung in Bild 1 ist der 8-fache DIP-Schalter SW1, der in einer DIL-Fassung steckt. Sind die Schalter geschlossen, verbinden sie die Eingänge von IC1 mit Masse, ansonsten sorgen die Pull-up-Widerstände (4,7 k), die gemeinsam im SIL-Array R1 stecken, diese Eingänge mit +5 V. Jede der Leitungen ist auch mit K1 verbunden, einem 1x10-poligen oder 2x10-poligen Pfostenverbinder.