• Messen & Testen
  • Veröffentlicht in Heft 2/1998 auf Seite 20
Über den Artikel

JFET-Tester

Einfaches Testen und Selektieren

JFET-Tester
Viele Elektroniker stehen FETs in Analogschaltungen eher reserviert gegenüber, obwohl sie in vielen Fällen Vorteile bieten, wie zum Beispiel hohe Eingangsimpedanz, hohe Grenzfrequenzen, relativ niedriges Rauschen und geringen Beschaltungsaufwand. Ein Nachteil ist allerdings, daß man mit einer relativ großen Parameterstreuung rechnen muß. Wenn man aber einen einfach handzuhabenden Tester hat, ist das gar kein Nachteil, weil man die tatsächlichen Daten leicht feststellen und entsprechend berücksichtigen kann.Wenn es wie so oft um einen einzelnen Schaltungsaufbau geht, der möglichst optimal funktionierten soll, kann man mit einem FET-Tester entweder die am besten zur Schaltungsdimensionierung passenden FETs selektieren oder umgekehrt die Schaltungsdimensionierung an den verwendeten FET anpassen, um beispielsweise den optimalen Arbeitspunkt einzustellen und damit den maximalen Aussteuerbereich zu erhalten.
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Widerstände:
R1 = 5k6
R2 = 22 k
R3 = 10 M
R4,R5 = 100 k
R6 = 10 (möglichst 1 %, siehe Text)
P1 = 5 k Trimmpoti, 10-Gang-Cermet, stehend
Kondensatoren:
C1 = 100 µ/16V
C2,C3 = 100 n
C4 = 1 n
C5 = 10 µ/63V
Halbleiter:
D1 = 1N4001
D2,D3 = 1N4148
T1 = zu testender Transistor (N-Kanal-JFET)
IC1 = 79L12
IC2 = TL071CP
Außerdem:
M1 = DVM (siehe Text)
K2,K3,K4 = 3 Reihen mit je drei gedrehten IC-Fassungs-Pins
S1 = Digitaster, 1 Schließer (ITT-Schadow).
K1 = Netzteil-Anschlußbuchse, flache Ausführung
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